基于六西格玛培训提高GD传感器合格率 点击:244 | 回复:0



天行健管理

    
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发表于:2020-11-05 09:10:41
楼主

为保证公司长期高速增长。特邀天行健管理公司为该公司指导六西格玛培训和项目指导工作,“提高GD传感器的一次合格率”就是公司推行六西格玛培训的案例之一。


一、测量阶段


GD传感器概要生产流程分析(图1),目前生产过程的六西格玛水平为:2.9σ。


GD传感器生产流程



二、分析阶段


1、主要缺陷类型分析(图2)


GD传感器返工原因排列图

造成传感器返工的主要缺陷类型有:灵敏度超差、线性超差、半导体片歪、绝缘性能超差和其他原因。其中灵敏度超差和线性超差,是主要返工原因。其中,半导体片歪和绝缘性能超差是由于操作人员违反操作规程造成的。灵敏度和线性是传感器的主要质量特性,在制造过程中,由不同检验员使用专用仪器进行测量,因此人员和操作的一致性对质量特性的控制至关重要。


2、用Minitab软件对灵敏度的测量系统进行分析(图3、图4)


灵敏度测量分析


灵敏度测量分析


①对灵敏度测量系统的分析结果表明:


重复性与再现性容差百分率高达67.1%,因此测量系统误差导致结果不真实,是造成质量特性不稳定的主要原因。


②进一步分析还表明测量系统的人为因素影响明显:


被测传感器放置的方法、位置因人而异,严重影响了测量结果的重复性与再现性,需对该测量系统进行改进。


3、用因果图对造成线性超差的原因进行分析(图5)


线型超差的原因分析


4、为确定线性超差的主要原因,进行DOE试验分析(表6)


DOE因子水平表

按极差排序,对非线性的影响程度最大的是因子A,其次是因子B,而因子C与D影响很小。这说明膜片是否退火是造成传感器非线性的最重要的原因,而膜片退火主要是消除应力,因此可以得出如下结论:膜片的应力是造成非线性返工的主要原因。


三、改进阶段


1、为减少灵敏度测量系统的误差,制作了一副专用测试夹具(图7)


专用测试夹具


①使用此夹具,可防止侧试时传感器位置的转动;


②消除测试对位过程中的人为因素;


③防止传感器前后左右晃动,影响测试精度;


④经验证,改进后的系统误差和改进前相比显著下降:容差百分率(SV/Tolerance)从67.1%降低到26.51%,效果显著。


2、膜片的改进


①将膜片冲压以后,加一道退火工序,工艺条件为:600℃和5小时低温退火;


②膜片的厚度从0.38mm改为0.40mm;


经过改进,使得焊接后的应力大大降低。


3、改进后的效果


整个GD传感器生产过程六西格玛水平:3.96σ,报废率为0,均超过项目当初预期的目标。


四、控制阶段


①更改测试工艺文件和操作规程;


②更改膜片的设计图纸;


③培训测试工序员工和膜片检验员。


1分不嫌少!


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