（已结帖）工控PLC擂台第56期－PLC在自动生产线上检测产品是否合格！ 点击：4534 | 回复：92
本期擂台为从网友征集的题目。题目如下：
我想做这样一个题目：自动生产线上检测产品是否合格，把不合格品剔出来。
每一个产品由36个“零件”在平面上排列成6×6的方阵。现要求限用PLC的3个输入点来实现对36个“零件”的扫描检测。希望检测传感器采用光电开关一类的检测元件。
产品基板上缺少任何一个零件，则该产品为不合格品，应该剔除！
PLC及设备类型不限。
工控PLC擂台每周一期，本期下周结贴。奖项设置：一等奖1名：50MP，二等奖5名：10MP，三等奖10名：30积分。
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我的“探杆检测机构”中，探杆连带滚轮一起才约100克的重量。把它悬装在自动贴纸线基板经过的位置上方2毫米的位置，基板托着“瓷砖矩阵”从它下方通过时，这端部装有滚轮的“探杆”对基板上有无瓷砖的“探测动作”就好比“盲人用手指去触摸”这基板上有没有瓷砖。若没有触摸到瓷砖，探测装置就发出信号给PLC，经运算去控制自动贴纸机不对该版不合格的“矩阵”贴纸，从而杜绝了空贴纸的浪费！
我们对“探测”动作理解为“触摸”（轻微）动作。而<wyb2866255>却在没有亲眼见到这种“探测装置”的情况下就武断的认为“探测”动作可能是重型的“碾轧”！
把这种（45mm×45mm×4mm 的）小瓷砖放到平地上让一辆卡车从上面碾过都不能把它碾坏！难道<wyb2866255>把“探测”动作想象成坦克碾过瓷砖？！
还有，“钻孔法”明明是wanggq在之前提出来的<方案1>，但<wyb2866255>却武断的把这个<方案1>说成他在29楼提出来的方案。把光源改成“日光灯”而不用“红外线发光二极管”就不是<方案1>了吗？！用“日光灯”作光源的检测程序难道就肯定比用“红外发光二极管”作光源的检测程序“简短”吗？！
这就是说：1、我是按你提出的3种方案中认为“用6×6钻孔矩阵的方法我认为最好” 2、在此基础上我提出“传送带改为方框式的，每个方框可放一块基板”怎么能说“却武断的把这个<方案1>说成他在29楼提出来的方案。”？ 3、“每个方框可放一块基板”就是说传送带是由一个个方框组成的，你在68楼用红笔画圈且又强调的“方框是一个个的”。
你在38楼画的用一端装有滾轮的“探杆”，并说杆上有一块挡铁，靠自重压下，并未强调重量100克（这是后来说明的，）按着图示的比例，考虑被测物是瓷砖，又是接触测量，我才提出有压坏的可能，这是正常分析问题的思路，怎能说是武断呢？再看看你对我画的方框式传动架示意图的多帖的分析，不是也按着你的主观想法去分析吗？你所讲的不是也在逐渐增加完善吗？
我是10月4日凌晨写过一贴，即你在71楼贴出我画的传送架示意图的那贴，不知怎么被删除了，你只贴出传送架示意图，说明内容没有贴出，亏得留有底稿，现将此帖内容贴出：
***下面就我提出的检测方案再重新明确一下，请网友分析指正：
1、传送带为方框式，它的四周是有托板的，放上基板，框架是不会漏光的，请见下图：
2、上图所示为挡板刚遮住接近开关时的位置图：此时发射与接受装置正好位于前后二个基板之间的框架托板上方，就是说光源右侧、接近开关左侧的基板已被捡测完毕，此时，如该基板是合格品，其标记位M4.0=0，如该基板是不合格品，其标记位M4.0=1。也就是说，M4.0的状态的确定是前于I0.1的前沿时刻（即接近开关被遮挡的前沿），请见下面“4”中的说明。
3、挡扳的宽度不是要加宽 ，而是要一点窄。最好为近开关被挡板遮挡能立即动作，传动架再前进一点，接近开关能立即恢复为最好。
4、挡板离开接近开关继续前进，当后一个基板进入检测区，开始对这个基板进行质量检测，如此时基板有漏件的，当其运行到检测装置下，必然使I0.0=1，I0.0的前沿又使M4.0=1，（如再检出漏件，M4.0仍保持=1）直到其基板的尾部离开监测装置，此时检测装置已完成对该基板的检测（M4.0的状态就是该基板的质量标记），而此时该基板的前方挡板尚未当上接近开关，要再前进一点距离方可当上接近开关使I0.1=1。当I0.1=1的前沿出现时，根据M4.0的状态，如M4.0=0（合格品），剔出机构不动作，如M4.0=1（不合格品），剔出机构动作，将这刚刚被检测完毕的基板剔出，同时使M4.0=0。 故下面的程序是正确的、无需改动的。****
这里我画的是简易示意图，强调基板与框架之间相接不漏光，但框架之间连接少画一笔连接线，画此图的主要目的是画出检测机构、被测基板、接近开关3者之间的相互位置，以用来说明程序的正确无误。
你说“wyb2866255的程序没有“移位控制”的功能，在实践中是行不通的，因为你不可能把“检测装置”安放到“执行机构”所占有的位置里面去！”请见下图：
此图仍用原来的图只是增加了剔出装置，它位于接近开关与检测装置之间，当接近开关被挡板遮挡时，其后面的基板已检测完毕且走出检测装置，如是不合格品（M4.0=1），剔出装置动作，将基板抬起，再由其它装置取走。请问不可以吗？请从头到尾看看各个帖的内容吧，就此结束不再回帖。
<wyb2866255>真是太强词夺理了！<wyb2866255>在3楼批评别人时，说“1楼编程选用‘检测装置传感器’来回避如何检测制件的问题，2楼编程是假设基体是透明的，采用穿透法检测。显然没有达到题目要求。”你怎么不考虑题目并没有强调不准1楼的采用简单示意的表述语言来解答！你怎么也不考虑题目并没有强调规定2楼的不许用透明的基板！
轮到我指出你<wyb2866255>在29楼的《图1》传送线上相邻的两个框架之间的“间隔”会“漏光”时，你就可以搪塞地画出一个表示一块整体材料的横断面来表达这个“间隔”是“不漏光的”，当我指出你两个相邻基板间只用一块整体的材料充做“间隔”就不能办到让基板作“平动”方式的运行时，你就强词夺理的说你那个整体横断面是表达“相互搭扣的两个外框架边”的简单示意；楼主题目所用的图片中画的基板分明画得清清楚楚的“基板没有孔洞”，你采用“钻孔法”就必然要给基板钻孔，也就必然产生费用，为了吹虚说你的方法最省钱，你却也可以强词夺理的说题目“没有事先规定基板是不带空的”（参见第48楼）！
自动贴纸机在传送线上占有约3版“瓷砖方阵”的长度。贴纸机里靠近“瓷砖方阵”经过的水平面上方安装有3个用于给贴纸涂布浆糊的滾筒，滚筒下面与瓷砖表面之间还要放置一个接住浆糊的方盘。你<wyb2866255>有本事把你的光电检测装置再放置到滚筒或方盘的下面去吗？！你凭空想象出执行贴纸的机构是尺寸小于一个被检“方阵”的微型装置，当然你就认为可以不用“移位寄存器”来实现对执行机构的控制。但在实践中你那个没有“移位控制”功能的程序是不能实现对贴纸机施行禁止空贴纸的目标的！
再譬如，电子元件厂里自动检测并分拣传送线上快速传送的半成品电阻器。检测装置是一台电桥测阻仪，可以对从检测口下面快速经过的随传送线运动着的每一只电阻器的电阻值进行测量，并把测量值与设定值进行比较。测阻仪上可以设定电阻器的“误差精度等级”如：±1% 、±2% 、±5% 、等。阻值误差超过设定等级时，并不能在检测口立即剔出来，因为检测装置把检测口处的一小段传送线给占用了，不可能在这一小段里把分拣“非合格品”的装置安置进去！
传送线上一个半成品电阻器只占一个链节，而一个检测口就占了十几个链节的尺寸，再有分拣机构又要占十几个链节的尺寸。你说这检测口怎么装得到分拣机构所占的位置里去? ! 所以，对这类问题的处理都是采用“移位寄存器”技术来解决的！
对：wyb2866255关于 根据wanggq介绍，我认为采用入射角等于反射角的发光与接受的方法不太可靠，因为wanggq已说过传送过程中会发生上下起伏，如果这样就会造成判断失误（会把合格品剔出或把不合格品保留），而且制作复杂成本高。 用6×6钻孔矩阵的方法我认为最好，其原因为：1、不受传送上下带起伏影响，2、制作简单、控制可靠，成本低。 我的设想是这样：传送带改为方框式的，每个方框可放一块基板，在方框边尾处向外连接一块铁片，用以遮挡接近开关用。见下图： 图一为传送架示意图，其光电监测装置前与接近开关的距离为：当接近开关位于挡铁下方时，光电监测装置位于下一个基板的前沿，其目的是：接近开关被挡铁遮住，其输出为1（输入给PLC输入点，如I0.1=1）它先判断送过来的基板是否是合格品，不是将其剔出。随着接近开关离开挡铁，光电监测装置开始检测下一个基板，当被捡基本走出、离开光电监测装置后，下一块当铁又遮挡接近开关，使其输出为1，又重复上述动作。 图二为检测基板上元件质量的示意图。传送带下方放置长度大于基板宽度的高亮度日光灯，它时时发光，如基板上有元件缺少，该灯光会通过基板缺件的通孔使上方光敏三极管受光而导通（见图三），使光敏三极管的集电极电压=0，该电压通过R2加在G1晶体管的基极上，使G1导通，这样+24V电压就加在PLC的输入点（如I0.0）上,使I0.0=1，PLC将质量标记位值1（如M4.0=1），当传送架运行到挡住接近开关时（该基板此时已检测完毕）I0.1=1，I0.0与I0.1二点串联驱动剔出装置，由于M4.0=1(废品)，剔出装置动作将废品剔除，同时将M4.0=0。 图三为光敏接收器电路图，它是由6只参数相同的光敏三极管并联，其集电极接R3电阻、再接24V电源，发射极接24V的负极。光敏三极管的集电极又接R2，R2的另一端接G1三极管的基极。G1为PNP型晶体管，其发射极接+24V，集电极接PLC输入端（如I0.0）。当6只光敏三极管均未受到光照处于截止状态，其集电极电压=24V，使G1管无注入基极电流而截止，PLC的输入点I0.0也因无注入电流而使 I0.0=0。如有一只或多只光敏三极管受光照而导通，就会使其集电极电压=0，这0V电压通过R2给G1管提供住够大的基极电流，使G1导通，+24V就直接加在I0.0输入点。从而实现检测基板上有无元件的功能。 综上，PLC检测与剔出的编程就不难编出： 1、 I0.0 为光敏接收器输出信号，如基板有缺件而漏光，使光敏接收器输出为1，即I0.0=1，其前沿使M4.0=1。 2、I0.1 接接近开关输出，当挡板遮住接近开关时，使I0.1=1，如此时M4.0=1(即被捡基板为不合格品)，其前沿触发Q0.0，使其输出=1，剔除装置动作，将废品剔出（动作时间为T101延时时间）。同时使标记位清0。内容的回复：
个人非常崇拜您，你的每个设计都堪称经典，在这里给您拜年，祝您身体健康，合家欢乐，以后写出更多更好的帖子，再次谢谢您。
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