随着工业4.0概念不断的深入到制造业,越来越多的企业将生产过程的数字化改造,作为当前企业信息化智能化升级的基础,如何充分利用这些数据,发掘数据的价值,将成为企业迈向工业4.0的核心。
对于半导体行业而言,测试工序是进行半导体产品生产的核心环节,通过对进行全方面的测试,确定产品是否合格,能否进入产品交互环节,另外,半导体生产产量大和微观性的特点,因此半导体测试工序大多采用自动测试系统,这类测试系统在运行的过程中,会产生大量数据。
传统的测试数据处理方法,基于独立系统开发,对数据的利用仅仅局限于测试系统本身,通过对测试结果数据的监控,确定产品测试数据是否符合要求,数据的流动只能在单个软件系统或者单个设备当中,没有考虑数据在不同系统不同设备之间的流转,使得对工业数据的分析具有很大的局限性。
现有测试数据处理方法,一方面由于传统数据存储与处理能力的不足,造成过程数据采集的不完整,数据后期利用不佳,另一方面,即使测试数据能够完整的采集与存储,但由于测试数据的采集往往远离实际数据应用需求,造成海量数据在不同的系统之间来回流动,系统之间的集成性能较低,数据应用深度较低,没有充分发掘数据的价值。
技术实现要素:
纳米软件AIMS智能分析系统吸引通过该数据架构,能够将自动测试系统产生的各种数据,包括测试用例、测试过程数据和测试结果数据,将数据统一进行抽取、建模分析和存储,形成具备一定特征的数据集合。
为解决上述问题,本发明采用的一个技术方案是:提供一种数据处理架构,该架构包括若干组件,包括数据接入、数据窗口、处理模型、任务控制和特征数据集;
各组件具体功能:
(1)数据接入:数据接入分为系统级数据SDK、结构化数据接入和非结构化数据接入。系统级数据SDK,提供数据开发工具部,将数据接入采集点植入自动测试系统内部,实现测试数据细粒度精确采集;结构化数据接入,提供对结构化存储系统的数据采集功能,可以实现对自动测试系统以及上下游应用软件系统的数据接入功能;非结构化数据接入,针对较为特殊的测试应用环境,提供对非结构化文件,常见的包括文件和多媒体文件的识别和采集,实现对非结构化数据的接入功能;
(2)数据窗口:实现对数据接入模块的数据统一汇集功能,通过先进先出的存储缓存机制,供下游计算模型处理模块对测试数据进行深度利用;
(3)处理模型:通过预先定义规则,将处理模型实例化为具体可以调度运行的计算任务,任务作为数据队列中的数据消费者,通过单条或者批量的数据导入方式,实现对数据深度处理,将海量数据分解为若干具有一定特征的数据集合;
(4)任务控制:根据特征数据集的特点,对任务执行的周期进行控制;
(5)特征数据集:处理模型执行的数据结果集合,特征数据所具备的特殊性,源于其他业务需求,纳米软件AIMS智能分析系统就是想要提出一种具备普适性的一般方法,将从测试数据产生的源头,对数据进行预处理,形成具备一定特征的数据集合;。
区别于现有技术的情况,纳米软件AIMS智能分析系统提出的数据处理架构,在测试数据产生的源头,考虑加入可自定义的数据处理架构,将测试数据采集的过程,变成一种特征数据采集的过程,能够大大提高原始数据的价值,降低不同系统之间数据流动的代价,提高系统之间数据通信的效率,是数据上层深度应用的有力保障。
NS-AIMS智能分析系统主要由质量分析、用户管理、实时分析、生产管理、产品分析、预警监控六个模块组成。把数据从不同的维度进行整合分析,为不同部门不同业务角色的工作提供更加可靠方便的数据信息和业务支撑依据。实现企业的产品质量分析管控、市场订单合格率和货期的预估管控、高效的排产管控、员工和部门工作流和业务的高效管控。
用户管理模块:在NS-AIMS智能分析系统中,会牵扯到不同部门的不同角色登录查看信息的情况,因此该模块提供了不同部门不同角色权限的设置功能,为保证智能分析系统良性运行,也为了让不同的角色能否实时查看到自己最想看到的信息。
实时分析模块:实时分析模块可以通过筛选自动化测试系统和时间,看到各个测试车间测试员的测试量的情况,以及各个测试车间测试的各个批次产品的情况。也可以看到不同客户的已测试量的情况,点击还可以看到不同客户针对现有测试量的测试进度。
生产管理模块:在生产管理模块中,生产部可以通过增加测试产品,并相应配置测试产品的相关信息和测试工序下发到测试产线进行测试安排,形成合理有效的生产排程安排,针对未加入自动化测试系统的测试工序,在此模块中特意设置的数据导入功能,可以将手动测试的原始数据进行导入。
产品分析模块:产品分析模块主要是对技术管控、品质管控部门、市场营销部门开放的一个重要模块,包含了对产品设计的分析、产品历史合格率的分析、产品质量改善效果的分析以及市场营销部门登录进来可以对营销产品推荐起到至关重要的信息支撑作用。也可以对已经下单的测试产品的预计出货日期等信息进行查看。
预警监控模块:预警监控模块是本智能分析平台系统最大的亮点,通过对产品测试超标批次的相关信息进行预警提醒从而达到,对在测产品质量的有效管控,通过对目前在测产品不合格项目的数量统计,可以实现对某一测试系统中,各个测试仪器情况的有效分析,对仪器管理者提供有效可靠的信息,可以通过此信息确定仪器是否应该进行质量检查。通过对产品不合格的预警提醒功能和对仪器检测的数量统计完成被测品和测试工具的双重监控。
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