器件或电路的伏安特征，电工有两种获取方法，一种是看datasheet，由半导体厂家提供的各种曲线，另一种方法是自己测量。


关于如何测量，实际问题是超级复杂，远比想象中的简单。
例如要保证测量结果的可靠性，前提条件是保证所测的器件要【稳定】，稳定压倒一切，否则测量结果不可信。
稳定有两种，一种是【热稳定问题】，要防止热逃逸或者温度改变器件的工作点。所以很多高级仪器是使用脉冲法测量晶体管的伏安特性的，脉冲特别短，不易发热。
第二种稳定是【频率稳定】，如果出现了闭环及其自激，这种不稳定可能会导致出现双值点，这个问题可以通过选择合适的终端阻抗来避免。



确保系统稳定的前提下，如何测量伏安特征呢？


第一种方法，用电压源扫描，原理如下图：







电压上下移动，如果给人做CT一样，上下扫描一遍，可探知未知器件或电路的伏安特征。
假设测量的是个电阻，蓝色的电阻伏安特征曲线和紫线的交点，一一记录并显示出来即可。







第二种方法，使用电流源扫描：








所谓的电流源就是电压源串个大电阻（和器件电阻相比）。



第三种方法是电压源串一可调电阻，改变电阻值，曲线上面一点不动，其余部分绕该点绕动。




第四种方法，电阻R不变，电源电压可调：