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关于硬件测试和DCS整体评估的问题 点击：1220 | 回复：5



数据转发卡

    
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发表于：2004-05-20 08:55:00
楼主
对于DCS系统的硬件测试的信息资源很少，对于DI、DO、AI、AO等卡件的测试和评估方面，缺少比较和总结，还有对DCS整体性能的评估也缺少，在这里，希望能和大家交流一下这方面的经验。
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FOXBORO

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发表于：2004-05-20 12:52:00
1楼
这是DCS的要点.
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数据转发卡

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发表于：2004-05-21 14:53:00
2楼
呵呵，感兴趣的人不多啊？ 那我来说几点，来抛砖引玉吧。 1. 对I/O卡件和主控制卡等硬件的测试，目前主要局限于黑盒测试，既给予激励源，然后对比输出，检查各项功能是否达标。这种测试比较简单，但是无法精确测出电路具体的BUG，只是有一个模糊的方向。 而结合白盒和黑盒是比较合理的方案，具体就不累述了。 2. 对于DCS整体的评估，是否可以如下的参数进行： 控制周期 网络结构、流量、速度等 规模点数 长期运行稳定性 EMC兼容 防雷 控制算法等软件性能 开放性 对于这些参数，目前有何先进的测试方法呢？
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FOXBORO

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发表于：2004-05-24 13:40:00
3楼
本人遇见:通常几乎所有DCS厂商都说自己的I/O卡件为单通道隔离,许多用户没有验证方法,大家看此法有无帮助:既然单通道隔离,我在一个通道上加220VAC电压,一定时间内,看是不是此通道击穿入地,其它通道不坏,则为单通道隔离,否则,整个I/O卡件均坏,则不是单通道隔离.(当然电压可适当调低).此法可作为用户的一个监测方法.
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发表于：2004-05-25 10:10:00
4楼
可以测通道间的绝缘强度，加500VAC，60秒，漏电流小于10mA，则隔离效果合格。
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发表于：2004-05-31 10:19:00
5楼
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