器件的I-V功能测试和特征分析是实验过程中经常需要测试的参数之一，一般我们用到源表进行IV参数的测试，如果需要对测试的数据进行实时IV曲线图显示及保存，可以用到源表测试软件NS-SourceMeter。本篇文章纳米软件Namisoft小编将为大家分享一下关于用源表测试IV参数的典型应用及源表测试软件。

　　一、各种器件的I-V功能测试和特征分析包括

　　1、分立和无源元件

　　两端口器件——传感器、磁盘驱动器头、金属氧化物可变电阻（MOV）、二极管、齐纳二极管、电容、热敏电阻

　　三端口器件——小信号双极结型晶体管（BJT）场效应晶体管（FET），等等

　　2、简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传感器、转换器、稳压器

　　3、集成器件——小规模集成（SSI）和大规模集成（LSI）

　　模拟IC

　　射频集成电路（RFIC）

　　专用集成电路（ASIC）

　　片上系统（SOC）器件

　　4、光电器件，例如发光二极管（LED）、激光二极管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面发射激光器 （VCSEL）、显示器

　　5、圆片级可靠性

　　NBTI、TDDB、HCI、电迁移

　　6、太阳能电池

　　7、电池

　　等等...

　　二、NS-SourceMeter源表测试软件IV特性测试应用案例

　　这里以纳米NS-SourceMeter源表软件为例，用到软件的扫描模块进行IV曲线的测试演示。

　　◆试验参数设置界面

　　在此界面中进行试验的具体参数设置，选择接线方式（二线法、四线法），扫描模式（从起点到终点单项扫描、从起点到终点循环扫描、从零点开始循环扫描），传感器模式、输出测试通道（通道、输出类型、起点电压、终点电压、扫描步长、电流限制、测量间隔、循环间隔、循环次数），如下图所示。

　　◆ 运行测试界面（举例说明）

　　测试内容：伏安特性曲线（900KΩ）

　　测量结果：源表会根据改模块配置，如扫描模式（从起点到终点单项扫描），传感器模式（关闭），通道（CH1），输出类型（电压输出），起点电压（0.10V）,终点电压（10.00V），扫描步长（0.10）、电流限制（1.00A），测量间隔（0.01S），循环间隔（0.10S）,循环次数（1.00次）进行扫描，如下图所示。