芯片振荡频率是指芯片内部的工作频率，常用于数字电路和模拟电路中。芯片的振荡频率直接关系到芯片的运行速度，其大小与内部电容器、电感、晶体等元件的特性有关，所以一款芯片在生产出来之后它的振荡频率的大小总是会在固定的范围之内。因此，芯片的振荡测试不仅需要抓取频率的波形，还需要记录波形的频率数值与标准数值进行阈值判断。

　　纳米软件ATECLOUD-IC智能云测试平台如何测试电源芯片的振荡频率?

　　在系统测试电源芯片的振荡频率前，我们需要准备一台多通道电源、一台电子负载、一台示波器以及边缘计算设备(纳米BOX)，纳米BOX是执行软件运行与计算的重要设备。

　　1. 将电源连接到电源芯片的VIN和EN端，电子负载连接到芯片VOUT端，示波器接连接到电源芯片的SW端。

　　2. 将电源、示波器、电子负载通过USB/LAN/RS232接口与纳米BOX相连，再通过网线与计算机连接，使得仪器、BOX和计算机处于同一网段下。

　　3. 打开浏览器，登陆ATECLOUD-IC系统，在系统内部搭建振荡频率的测试项目，将搭建好的项目组建成电源芯片振荡频率测试方案，之后直接启动测试即可。

　　4. 等待2-3秒即可完成测试，在系统指标展示界面可直接查看到测试中的振荡频率波形和参数。

　　5. 测试中的指标数据和历史数据都可以在数据报告界面查看，同时可以直接一键导出数据和波形图，自动生成word或excel文档。

　　6. 特有的数据洞察模块可以将所有测试数据集中分析处理，系统会从产品合格率，人员功效率，产品指标图等多个维度对采集到的数据进行分析，也可以将这些分析结果集中在大数据看板上展示，为管理者的决策提供真实有效的数据支撑。

　　ATECLOUD-IC芯片测试系统特点

　　1. 相对手动测试项目需要2-3分钟来说，系统测试仅需2-3秒就可以得到测试结果，可以有效提升研发测试效率。

　　2. 针对某些需要采样率高的测试项目，手动测试只能目测估值，而系统测试则可以达到毫秒级的采样频率，优化产品测试工艺，使得测试数据更加精准。

　　3. 测试系统可以根据用户的需求添加或删减测试项目和仪器，后续可更加灵活的适配各类测试项目，无需重新开发软件和项目。

　　4. 大数据分析，数据洞察模块免去了用户需要购买分析模块或人工数据分析的烦恼，可以更直观的反馈给用户数据的各项对比以及分析图表。