日立FT-110A四大特点：

一、测量。

1、通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。

2、微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。

3、多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。

4、广域观察系统( 选配)可从最大250 x 200mm的样品整体图像指定测量位置。

5、对应大型印刷线路板(选配)可对600x600mm的大型印刷线路板进行测量。

6、低价位与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

二、为了适应日益提高的镀层厚度测量要求，开发了配备自动定位功能的第八代X射线荧光镀层厚度测量仪FT110。 

1、通过自主定位功能，仅需把样品放置在样品台上，就可在数秒内对样品进行自动对焦。因此，无需进行以往的手动主次对焦的操作，大大提高了样品测量的操作性。

2、自动聚焦和激光聚焦模式：配置激光聚焦和自动对焦系统，可以快速对焦，改变焦距设定，方便凹形样品的测试。

3、双重准直器配置：可以常规使用， 也可以针对小型样品、矩形样品进行不同准直器选择测量。

4、双重摄像头功能：在常规摄像头的基础上可以选配广域摄像头，可以针对样品进行整体拍照，然后再局部放大进行测量。

三、优势。

1、全面、方便快捷。

2、硬件功能人性化。

2.1 X射线从上向下式照射，相比从下向上式，更方便样品的摆放。

2.2 开机自检，自动校正，无需定期人工校正。

2.3 多种光束尺寸选择，适合不同大小的样品。

2.4 过硬的硬件质量。

2.5 精确定位功能、各种自动保护功能。

2.6 激光自动聚焦功能、精准的三维样品台功能。

四、软件功能。

1、Word/Excel完善的报告格式。

2、测量速度快速而精确。

3、可提供多种镀层种类标准片，可实现多种镀层厚度测量功能。

4、具备镀层中元素分析的功能。