DFT其实是一个很广泛的范围，我们做ic设计的人讲到dft设计其实也是指其中一个很小的范围。

首先说，我们为什么要做dft？首先要明白一个这样一个概念，我们做dft主要是为了检查工艺错误，而不是为了检查芯片本身的设计错误。举一个简单的例子，有一个2输入的与门，如果它有工艺错误，output端不能从0正确的变到1。那么我们就会在它的两个input端口灌1，1信号，然后检查它的output是不是1,从而判定它有没有工艺错误。那么我们把这个概念推广到整个芯片的测试，我们为了检测到芯片每个部分，那么就要反推出input应该灌什么样的pattern。因为时序电路的特殊性，就引入了SDFF，把时序结果人为的变成“组合逻辑”，这样我们就能比较方便的通过控制SDFF的input值，达到控制它的output值得目的。

接着讲讲最基本的用mux-dff做的full scan的步骤（用DC做）：我通常会对芯片中的memory做memory bist（包含了bypass电路），做scan chain的时候就通过bypass电路绕过memory。然后用compile -scan 产生一个带SDFF但没有形成scan chain的网表（这个步骤中推荐使用rtldrc，把所有的error跟warning修改掉）。然后在这个netlist的基础上check dft修改掉error跟warning，确认preview dft是你想要的结果，就可以形成scan chain了。

然后用ATPG的tool产生测试pattern，看看覆盖l率，如果你是到好的生产代工的公司流片那么95%的覆盖率已经足够了。

补充:

DFT的基本概念里,fault at 0,fault at1是基本的.

就是说故障0,故障1,
要测试这些,有很多的算法.