sam 发表于 2001-10-26 13:28 测试测量 ←返回版面 *测量对象：1.电阻：最大上百兆；2.电流：低至10uA。*测量用电压:70VDC。*取样电阻分三挡:10、1K、100K。*器件：可编程增益测量放大器PGA205。*连接方式：70V+ > 被测电阻 > 系统地 > 取样电阻 > 70V- . PGA205同相端接系统地,反相端接70V-,即取样电阻两端.*问题:反相端有幅度很大的50Hz共模干扰，严重影响小电流时的检测精度。因对测量速度有要求--最高几十毫秒/点，限制了取平均值的次数。 加50HZ有源双型陷波电路 <无内容> - 天衡 2001-10-26 16:00:10 致天衡 sam 发表于 2001-10-26 17:50 测试测量 ←返回版面 该测试仪用于流水线生产，测量对象有数百个单元，需高速切换，现取样频率为100K，每个单元重复检测100-2000次取平均值，周期为1ms-20ms.加陷波有无影响,是否需做调整.谢谢! pengjianxue 发表于 2001-10-26 22:25 测试测量 ←返回版面 要高速又要效除工频干扰，只有正确的差分设计才行。彭建学 上海 消除50HZ干扰 天衡 发表于 2001-10-27 22:24 测试测量 ←返回版面 针对你的问题，可以任为50HZ干扰信号的来源为：1。电磁场无线干扰2。从取样电阻上引入的共模干扰3。如果用交流电源供电，则会从降压整流电源电路上引入50HZ，100HZ，150HZ。。。等的干扰欲彻底解决问题需分别采取措施。