LCR数字电桥主要是用来测试电感、电容、电阻的测试仪。

 LCR 表和阻抗分析仪的用途基本类似，都可以用于测量电容、电感和电阻等阻抗相关参数。其工作原理为测量相敏电压与电流的比值。该比值给出了阻抗的基本数值，例如阻抗的绝对值和相位，以及阻抗的实部和虚部。

   在基本测试中，应用自定义的等效电路模型，即可得出相关阻抗参数，包括电容 (C)、电感 (L) 和电阻 (R)（LCR 表因此得名）。此外，还能进一步得出 Q 因子、损耗系数和电导率等参数。

  除了上述功能外，阻抗分析仪也可对频率进行扫描，通过图形显示获取的阻抗相关参数。相比之下，LCR 表只能获取固定频率下的参数。尽管，某些 LCR 表仍可以先在多个固定频率下获取相关数据，然后通过进一步的插值处理得到阻抗相关参数。

LCR表测试项：

测量功能

测量参数

– Cp-D、Cp-Q、Cp-G、Cp-Rp

– Cs-D、Cs-Q、Cs-Rs

– Lp-D、Lp-Q、Lp-G、Lp-Rp、Lp-Rdc

– Ls-D、Ls-Q、Ls-Rs、Ls-Rdc

 – R-X

– Z-θd、Z-θr

– G-B

 – Y-qd、Y-qr

– Vdc-Idc

定义

 Cp 通过并联等效电路模型测得的电容值

 Cs 通过串联等效电路模型测得的电容值

 Lp 通过并联等效电路模型测得的电感值

 Ls 通过串联等效电路模型测得的电感值

D 损耗因数

Q 品质因数（D 的倒数）

 G 通过并联等效电路模型测得的等效并联电导

Rp 通过并联等效电路模型测得的等效并联电阻

 Rs 通过串联等效电路模型测得的等效串联电阻

 Rdc 直流电阻

 R 电阻

X 电抗

Z 阻抗

Y 导纳

θd 阻抗/导纳相位角（角度）

θr 阻抗/导纳相位角（弧度）

B 电纳

Vdc 直流电压

 Idc 直流电流

选型测试内容

例如：

1、无源器件测试：电容、电感、磁芯、电阻器、压电器件、变压器等元件的阻抗参数评估和性能分析

2、介质材料测试：塑料、陶瓷等材料的介电常数和损耗角评估

3、磁性材料测试：磁性材料的导磁率和损耗角评估

4、半导体元件测试：印刷电路板、开关、电缆等的阻抗评估，测试半导体的C-V特性

夹具类型

主要厂家：

国产：固纬电子、同惠、安柏、长盛

进口：是德科技、日置、稳科、苏黎世

案例举例：

E4980A测试液体，胶体，超薄薄膜和薄膜化合物相对介电系数和介质损耗因素解决方案

平行板电容法测试介电常数，是德科技LCR表E4980A配合原厂16451B电介质测试夹具（符合ASTM D150标准）可以对小于10mm的薄膜材料或16452A液体介电夹具对小量液体进行介电常数和介质损耗进行分析。如果薄膜材料太薄（小于100um厚度的产品），E4980A和16451B无法进行精确（精确度满足10%范围）的介电分析（电极间空气电容的影响）。16452A也只能微量的液体介电常数，无法分析胶体的介电常数。

是德科技配合日本KEYCOM推出DPS17电容法测试系统，结合是德科技LCR E4980A和KEYCOM公司的夹具及软件，能实现高温度范围（-70℃-300℃）的超薄薄膜（50um-2mm），液体和胶体的精确测试。

典型运用：

·        PCB材料性能评估

·        半导体材料性能评估

·        材料恶化评估

·        化学性质评估

标本样例：PCB板，半导体晶片，纯水，水果等。

测试指标：

测试频率：20Hz-2MHz

介电常数测试范围：1.05 ~ 1000

tanδ： 0.0005-1 @1MHz

测试精度小于±7% （Keycom公司数据）

测试案例：

样本：玻璃环氧板 测试频率1MHz

DPS17配置，除LCR E4980A外还包含针对不同运用的测试电极，测试软件(DMP-002040705-05)，恒温槽及控制软件，USB-GPIB线，windows PC 含打印机。

表示不同测试电极和恒温槽根据需求选择。

测试电极介绍

DPT-080 测试频率20Hz-1KHz，用于平板测试

DPT-009 测试频率100Hz-2MHz 针对薄膜，液体和胶体测试。

DPT-013 测试频率100Hz-2MHz，可选择50ml和200ml两种测试腔体。

DPT-2141平板测量电极，测试频率100Hz-1MHz