尺子是我们常用的长度测量工具，用其作为基准可以对被测对象的长度进行测量，简单易行。但是在一些特殊的场合下，无法用尺子靠近被测对象，那么该如何测量呢？本文要介绍的是电子内窥镜测量缺陷的阴影测量法。

电子内窥镜主要用于查找设备内部的裂纹、腐蚀、阻塞等缺陷，发现缺陷后还可以通过测量评估缺陷的状况。由于被检测设备的结构、深度等原因限制，通常无法将尺子这样的测量工具与探头一并进入设备内部并开展测量，因此不少电子内窥镜设备都在其系统内集成了一种或几种测量功能，从而可以不借助尺子完成测量。阴影测量法是使用较早的一种测量技术。

阴影测量法的原理是这样的：在电子内窥镜测量镜头的照明光输出窗口预置一条阴影刻线，当照明光通过时，因为刻线的遮挡，在被检测表面上投射出一条阴影线，随着镜头距离被测对象的远近发生变化，阴影线在屏幕上的位置和大小也相应发生变化，而测量镜头成像视角是固定的，电子内窥镜系统的测量软件可以基于平面几何原理计算出镜头与被测平面的距离，并进一步计算出测量点在被测平面上的二维坐标，以及缺陷的测量数据。

阴影测量法实现了内窥检测中的准确测量，而且是非接触式的，让缺陷评估更方便、更准确，对电子内窥镜的普及与应用起到了重要的作用，但是这种测量方法也有自己的弊端，要求测量镜头与被测对象表面垂直，否则无法保证测量结果的准确性，这对检测操作提出了较高的要求，成为阻碍这种测量技术发展的局限性。

后来在电子内窥镜的应用中，又出现了双物镜测量技术、相位扫描三维立体测量技术等更为先进的测量方法，这些测量方法或者模仿人类双眼结构实现双屏成像与测量，或者采取更为主动的相位光栅扫描来生成3D轮廓模型，原理与阴影测量法已经截然不同，而且不再要求测量镜头与被测平面垂直，测量更便捷。