引用 镜头看世界 的回复内容: 回复内容:对: 湖北老四 直接侧压力,然后乘以深度系...
楼主是要搞海底测绘么??如果是这种情况,那么可以考虑综合测量法。就是采用两种以上的方式来进行深度测量。
首先利用压力测量装置,在某个水深建立一个参考点。这个参考点的水深是可变的,但变化会通过水压体现出来,因此它可以作为一个参考点。
然后在参考点等深处设置一个光学(或者其他电磁波测距)测量装置,测量从参考点到实际水底的深度。因为光线在同一介质中的折射率几乎可以看作是一样的,即便因为介质的比重会产生微小差异,但比起不同介质产生的随机误差要小得多,因此,这种测量手段是可行的。如果必须获得非常精确的测量结果,那么需要根据介质的比重建立一个折射修正系数模型,然后在光学测量结果上叠加这个修正系数,就可以得出更加精确的结果。
最后,压力装置测量的深度(参考点深度)+光学测量深度=实际水深。
相比大功率声纳装置而言,这个东西应该不难做,经济性会好得多,测量误差也会在可以控制和接受的范围之内。如果你还是对这个测量精度不满意,那么可以将参考点设定为一个相对固定的点,之前的参考点定深是以海面为依据定深,如果你以海底为依据定深的话,然后采集压力水深值。。。也就是说,利用工控手段,确保参考点装置距离海底的距离适中保持一个固定值。这样,光学测量结果就是一个常量,而压力测量结果成为一个变量,两者相加会得出一个比较精确的水深值。