X射线荧光光谱仪，具有检测精度高、样品检测仓大、无需更换滤光片(滤波片)、无需样品形状的预处理、厚度自动修正、CL元素自动修正、X射线零外溢、随机携带等特点。下面我们来看看X射线荧光光谱仪的技术指标：

X射线荧光光谱仪的技术指标：

1、 分析元素：Si～U(Cd/Pb高精度型);Na～U(任选：φ1.2 mm/φ0.1 mm切换方式型)

2、 检测精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm

3、 检测仓内部尺寸：最大460×360 mm(高150 mm)

4、X射线照射径：φ1.2 mm(可选：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切换)

5、 检测器：高纯硅检测器 XEROPHY

6、 设备重量：约 265 kg(不含桌子、计算机)

7、 外形尺寸：分析部分：610(W)×750(D)×500(H)mm

8、 信号处理部：220(W)×500(D)×480(H)mm

9、可同时测量4层金属镀层的厚度。