Thick800A型X荧光测厚光谱仪介绍

Thick800A型X荧光测厚光谱仪，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的光谱仪，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

Thick800A型X荧光测厚光谱仪性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

Thick800A型X荧光测厚光谱仪技术指标

型号：Thick 800A

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。

一次可同时分析最多24个元素，五层镀层。

分析检出限可达2ppm，最薄可测试0.005μm。

分析含量一般为2ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

多次测量重复性可达0.1%

长期工作稳定性可达0.1%

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

仪器尺寸：576(W) x 495 (D) x 545(H) mm