XJTUOM 三维光学面扫描系统

随着现代工业制造水平的发展，产品零件大量采用不规则复杂曲面，其设计、生产、检测、试验等环节需要进行大量的三维曲面实体数字化和三维测量，迫切需要快速、高效、准确、移动式的三维测量技术和反求逆向设计技术。XJTUOM型三维光学点云测量系统用于不规则复杂曲面产品零件的移动便携式三维测量和逆向设计，可以与XJTUDP型工业数字近景三维摄影测量系统（便携式大型物体的关键点三维摄影测量）配合使用。

概述

 XJTUOM是一个三维实体数字化系统（optical 3d range scanning system），用于不规则复杂曲面产品零件的移动便携式三维扫描和逆向设计，可以与XJTUDP型工业数字近景三维摄影测量系统（便携式大型物体的关键点三维摄影测量）配合使用。
    采用国际最先进的外差式多频相移三维光学测量技术，单幅测量幅面大小（从150mm到2米）、测量精度、测量速度等性能都达到国际最先进水平，与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度更高，单次测量幅面更大、抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小，而且能够测量表面剧烈变化的工件，可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。广泛适用于各种需求三维数据的行业，如汽车工业、飞机工业、摩托车外壳及内饰、家电,雕塑等。
   目前，国内外三维光学密集点云扫描测量系统主要有两类：一是采用简单的单幅光栅相移技术，以加拿大Inspeck公司为代表的单相机测量技术，主要用于人体测量和人像雕刻使用，其精度无法满足工业的测量精度；二是采用格雷码加相移的三维测量技术，用多幅格雷码光栅对测量区域分级标识，再用单幅光栅相移测量，该技术国外在二十世纪90年代初已经成熟，德国GOM公司采用该技术在1995年就推出了ATOS Standard产品，目前国内外的三维光学扫描测量系统多采用该方法。
   格雷码加相移的三维测量技术的优点为算法实现简单，易于实现产品化，但是缺点非常明显：一是格雷码只是用于对测量幅面的分级，无法提高测量精度；二是格雷 码的使用造成测量系统对测量工件的表面明暗比较敏感，一般要喷显影剂才能测量，无法测量较暗的工件，无法测量表面剧烈变化的工件；三是单次测量幅面较小， 一般小于400mm。
   对于格雷码加相移的三维测量技术的缺点，国外一直在研究新的测量方法，提出了很多测量技术，其中外差式多频相移技术是发展较快的方法。XJTUOM型测量系统就是采用国际最新的外差式多频相移三维光学测量技术，是国内第一个采用外差式多频相移技术的实用化三维光学测量产品，达到了国外2007年最新产品的技术水平。

 
 100mm~400mm的编码标定版      1米～2米大幅面编码标定十字架