LabVIEW扫频阻抗测试系统 点击:18 | 回复:0



fjczd

    
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发表于:2024-01-28 18:53:39
楼主

实现扫频阻抗法用于检测变压器绕组变形,结合了短路阻抗法和频响法的优点,但受限于硬件精度,尤其是50 Hz短路阻抗测试存在稳定性和准确性的问题。通过LabVIEW编程,控制宽频带信号发生器和高速采集卡,提高测试结果的稳定性,尤其是在信号发生器精度有限和环境中存在工频干扰的条件下。


测试系统由宽频带信号发生器、高速数据采集卡和计算机组成。使用LabVIEW控制信号发生器产生特定频率的正弦激励信号,随后通过测试引线将激励信号加至变压器绕组。高速采集卡在LabVIEW的控制下采集变压器绕组首端和末端信号的幅值及相位,最后计算得出变压器绕组的扫频阻抗值。

为了克服原有测试系统的不足,提出了多种测试方法,包括多点频率拟合和线性拟合等,以减小由于硬件限制导致的误差。在硬件方面,类似型号的宽频带信号发生器和高速采集卡被用来提高测试精度。软件方面,LabVIEW的灵活性和强大的数据处理能力被充分利用,以优化测试流程和提高数据准确性。LabVIEW在此系统中发挥了至关重要的作用,不仅作为测试流程的控制核心,还负责数据采集、处理和分析,从而显著提高了测试系统的稳定性和准确性。




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