该 LabVIEW 程序实现了 线性拟合(Linear Fit),用于计算给定一组数据点的斜率(Slope)和截距(Intercept),并将结果可视化于 XY Graph 中。本案例适用于数据拟合、实验数据分析、传感器标定等应用场景。程序使用矩阵运算求解最小二乘法方程,并支持误差修正。
该程序的主要功能包括:
输入 X-Y 数据点数组(X-input array 和 Y-input array)。
计算线性回归方程:其中 为斜率(Slope), 为截距(Intercept)。
最小二乘法计算:
计算 X 和 Y 的均值。
计算斜率 :
计算截距 :
拟合结果可视化:
计算拟合直线上的 Y 值。
在 XY Graph 上显示原始数据点及拟合直线。
误差修正(可选启用):
计算修正后的斜率和截距(Correct Slope 和 Correct Intercept),提高拟合精度。
数据输入:
通过 X-input array 和 Y-input array 传入数据点。
最小二乘法计算:
使用 LabVIEW 的基本数学函数(乘法、加法、数组求和)实现线性回归。
计算均值、斜率、截距。
结果输出:
斜率、截距作为数值显示。
XY 图表显示原始数据点与拟合曲线。
错误检查:
确保 X 和 Y 具有相同数据点个数,并至少包含两个点。
LabVIEW 线性拟合(Linear Fit)官方文档:NI Documentation
最小二乘法原理:Least Squares Method - Wikipedia
LabVIEW 数据可视化:NI XY Graph 教程
本案例展示了 LabVIEW 通过基本数学运算实现线性回归拟合,适用于数据分析、信号处理等领域。利用 XY Graph 进行数据可视化,提高了直观性。同时支持修正选项,增强了拟合精度,是一个值得学习和借鉴的 LabVIEW 编程案例。
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