电子元器件发展史其实就是一部浓缩的电子发展史。电子技术是十九世纪末、二十世纪初开始发展起来的新兴技术，二十世纪发展最迅速，应用最广泛，成为近代科学技术发展的一个重要标志。

由于社会发展的需要，电子装置变的越来越复杂，这就要求了电子装置必须具有可靠性、速度快、消耗功率小以及质量轻、小型化、成本低等特点。自20世纪50年代提出集成电路的设想后，由于材料技术、器件技术和电路设计等综合技术的进步，在20世纪60年代研制成功了第一代集成电路。在半导体发展史上。集成电路的出现具有划时代的意义：它的诞生和发展推动了铜芯技术和计算机的进步，使科学研究的各个领域以及工业社会的结构发生了历史性变革。凭借优越的科学技术所发明的集成电路使研究者有了更先进的工具，进而产生了许多更为先进的技术。这些先进的技术有进一步促使更高性能、更廉价的集成电路的出现。对电子器件来说，体积越小，集成度越高；响应时间越短，计算处理的速度就越快；传送频率就越高，传送的信息量就越大。半导体工业和半导体技术被称为现代工业的基础，同时也已经发展称为一个相对独立的高科技产业。尤其需要一种能对电子元器件进行自动测试的系统。

NSAT-2000 电子元器件自动测试系统特点：

Ø 系统能够实现对FPFA/DSP芯片、电磁继电器、电容、电源模块等在环境应力在的高速瞬时测试。

Ø 可实现对电源、LCR数字电桥、绝缘耐压测试仪、电子负载、示波器、逻辑分析仪、数据采集器等测试仪器的并行控制。

Ø 所有仪器的连接可在硬件设置界面通过自动检测的功能实现，并支持仪器更换品牌型号的兼容。

Ø 在进行环境应力测试与被测产品参数测试前用户只需对仪器设备的参数进行设置，即可进入自动化测试。

Ø 测试系统满足不同产品在环境应力实验的同时进行多种参数的测试。

Ø 系统满足在线测试的要求，提供多功能的对象适配模块，使被测产品可固定可外接高频耐高温镀银线缆实现实时测试，且对象适配模块兼容不同被测产品类型。

Ø 针对FPGA多达256引脚测试，系统采用引脚测试模块与对象适配模块的方式完成。可将芯片256路引脚接入外围的引脚测试模块中，并行测试结束后，用户可更换引脚测试模块的连接线至下一批测试的引脚，这样顺序执行即可完成256路引脚测试。

Ø 系统不但运行时间长，而且能够确保数据的准确性和运行的稳定性。

Ø 系统提供用户自定义报告模板的功能，实现报告的多样化和灵活性。

NSAT-2000 电子元器件自动测试系统使用流程：