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引用 @Q 的回复内容: 并不是“同样的分辨率”了,因为原始信号的“分辨率”是不...
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所谓原始信号的分辨率,并不直接影响控制效果。对于控制器来说,接收到的信号是一个脉冲边沿对应1微米的位移,这与信号是怎么来的无关。
产生影响的,是信号的本身的精度和延迟,通常磁栅的精度远低于光栅(如果您用日本人的磁栅和国产的光栅比,那就当我没有说过)。而且,磁栅信号滞后,通常也是远大于光栅的,这个差异与磁栅的“原始信号分辨率”远大于光栅也有关系。可以算是“原始信号分辨率”的间接影响。
直线电机一般来说是三相的交流同步电机,电机的三相电流的角度相位必须与电机动子与定子之间的相对位置关系一致,电机的电流才有最大的效率。如果这个角度不一致,那么就会造成电机的效率下降,要有同样的推力,就必须有更大的电流,造成发热增加。
位置反馈信号的精度差,当然会造成驱动器对当前电机的位置判断不精确。反馈信号的延迟,也会造成电机运动中,驱动器对电机当前位置的判断出现误差。最终的结果就是电机的电流相位与实际位置不一致。
如果电机本身的制造精度或者安装精度就很差,动子的线圈位置有误差,定子的磁钢位置也没谱,当这个位置偏差远大于磁栅误差的时候,基本上换更高精度的反馈,意义也不大了,也就是说,再这个因素上体现不出磁栅与光栅的造成的差异。
如果电机的运行速度一直不高,驱动器的响应频率也不是很高,磁栅信号的延迟造成的动态位置误差也就没什么影响,那么在这个因素上也就体现不出磁栅与光栅的造成的差异。
引用 @Q 的回复内容: 再说到磁编,磁编的充磁工艺与光编的光刻工艺相比,精度要...
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实际上,光栅检测到也不是那个清晰的刻线边沿。除非是很低线数的光电编码器,否则,没有人用传感器去直接检测微米级的刻线。
光栅(光电编码器)上的光电传感器实际检测到的是尺带(码盘)上的刻线与读头上的刻线形成的叠栅,或者叫摩尔条纹。这个条纹是周期可以到毫米量级的正弦波。
关于叠栅或者叫摩尔条纹的特性,我不确定大学物理中是不是有介绍,但是很多介绍光栅尺或者编码器的书——尤其是大学出版社出的书——上都会有介绍,作者其实也不一定真明白,但是抄这么一段显得比较高。(我是的大学上课本上社有这个内容的,但我的专业是光学相关的,似乎不能作为通例),真有兴趣的可以自己去学习(复习)一下。
所以,NS磁极之间的渐变过渡,不是影响磁栅与光栅精度的因素。光栅中实际检测到的光信号同样是模糊的。
引用 @Q 的回复内容: 那么我追问海德汉有什么不同?在于信号源头到输出的电子处...
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电子细分技术,基本上高分辨率(微米以上)的光栅和几乎所有的磁栅都是经过信号细分处理实现的。这个处理的基本原理,就是把一个周期的原始正弦波信号,按照角度相位,分出多个数字信号周期。
输出信号的精度取决于原始信号(正弦波)的周期精度和波形的畸变大小,以及补偿波形畸变的算法效果。
信号的延迟,则被上面所有算法所消耗的时间影响。原则上细分的系数越高,延迟越大。实际上,可能具体到某一系列的产品,50细分和25细分没有差别,或者不同系列的产品,50细分的比10细分的还快也是有可能的。
引用 @Q 的回复内容: 光刻边缘与充磁NS边缘比较要好很多
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这个“好”,是完全没有意义的。没有人用传感器直接检测微米级的刻线。对于实际检测的光信号,边沿同样是渐变过渡的。这个过度同样是非线性的(是正弦的)。磁栅的原始信号是什么波形,这个我倒是没有真的仔细分析过。
有些东西您不方便讲,这个是可以理解的,但是在阉割了这些内容后,剩下的就似乎就不够自圆其说了。
引用 @Q 的回复内容: 如果我是在做课题的,或者只是做销售时的一个好卖的参数,...
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确实目前没有一个类似“动态精度”的标准(我去年请教过北京计量院,真的没有)。也没有对于信号延迟的标准检测方式(计量院也没有这个检测项目),也没有见几家产品标这个参数。一般人能做的,对多也只能是对比两种产品之间的差异,谁比谁延迟大了多少。在没有这个直接参数做比较的情况下,用细分数也可以当作个参考。但是这个参考本身有多大价值呢?产假不会告诉您它使用的是什么芯片什么算法,不同厂家产品对比,不一定细分数大的延迟就大。单纯强调信号的原始周期,和卖手机的单纯强调摄像头有多少像素一样。
据说,某品牌的光栅尺分数显和数控两类,其间的区别,有些销售也不太清楚。个人猜测,应该是信号延迟,这个是数显和数控在应用需求上最重大区别了。
回复内容:
对:刘岩利 引用 @Q 的回复内容: 光刻边缘与充磁NS边缘比较要好很多-------------------------这个“好”,是完全没有意义的。没有人用传感器直接检测微米级的刻线。对于实际检测的光信号,边沿同样是渐变过渡的。这个过度同样是非线性的(是正弦的)。磁栅的原始信号是什么波形,这个我倒是没有真的仔细分析过。有些东西您不方便讲,这个是可以理解的,但是在阉割了这些内容后,剩下的就似乎就不够自圆其说了。引用 @Q 的回复内容: 如果我是在做课题的,或者只是做销售时的一个好卖的参数,...-------------------------确实目前没有一个类似“动态精度”的标准(我去年请教过北京计量院,真的没有)。也没有对于信号延迟的标准检测方式(计量院也没有这个检测项目),也没有见几家产品标这个参数。一般人能做的,对多也只能是对比两种产品之间的差异,谁比谁延迟大了多少。在没有这个直接参数做比较的情况下,用细分数也可以当作个参考。但是这个参考本身有多大价值呢?产假不会告诉您它使用的是什么芯片什么算法,不同厂家产品对比,不一定细分数大的延迟就大。单纯强调信号的原始周期,和卖手机的单纯强调摄像头有多少像素一样。据说,某品牌的光栅尺分数显和数控两类,其间的区别,有些销售也不太清楚。个人猜测,应该是信号延迟,这个是数显和数控在应用需求上最重大区别了。 内容的回复:我们这里是讲测量长度的,那么光码盘的模糊宽度小于磁编NS的模糊宽度,这就是其“好”。其次是系统的误差分离与分析补偿,分离出不变系统误差与可变系统误差,离散性的随机误差,光码盘优于磁码盘,这也是“好”。可惜我不去做光码盘了,我们的基础条件不具备。