热分析仪TA33/TA35主要是为了测量分析石墨片散热问题。测试原理:点循环加热放射测温法,是通过激光进行交流加热,用放射温度计捕捉温度变化。

热分析仪TA33/TA35测量范围：

1.圆形、三角形等不同形状都可以测量，测量形状高自由度

2.可以检测有机膜到钻石材料的动态热范围； 

3. 可以评估横向和纵向热问题评估分析。可以连续测试纵向、横向方向。

4.通过分布测量来评估缺陷和不均匀性。 

热分析仪TA33/TA35优势：

1. 激光非接触式测量，高精度，高密度；

2. 操作简单，只要将样品放置到指定位置就可以进行测量；

3. 焦距自动调整功能，测量方式灵活，可测量不同形状样品。

如：圆形、薄板状、片状等；

4. 测量范围宽广，从有机膜到钻石材料都可测量；

5. 可求得热扩散率的绝对值。另外，测试条件的设定可以通过“简单测试”功能快速进行；

6. XYZ方向连续测量来确认样品的各向异性；

7. Mapping测量功能，通过连续多点测量Z方向热物性值进行分布评估，可评估样品的缺陷和不均匀性；

8. 片状・板状材料的热扩散率测量设备。

    案例分享：

    1. 石墨片的热扩散率测量：

   （1）可测量10～300μm之间样品厚度；

   （2）热扩散率 100×10-6～1000×10-6[m2/s]

   （3） 可测量单层或多层的石墨片。

       2. TIM材料的热扩散率分布测量：

规格范围

对象材料　：单层石墨片 

规格适用范围　：样品厚度 10μm～ 100μm

　　　　　　　　      热扩散率 100×10-6～1000×10-6[m2/s]

热分析仪TA33/35可以对机能性材料的热扩散率的一种测定，主要是对树脂、玻璃、各类金属、金刚石、石墨、石墨烯、碳纤维复合材料、SIC陶瓷等机能性材料的热扩散率进行测量。

热分析仪 TA33/35  还能够测定厚度10～300μm之间的样品，全部测试功能自动完成；马达控制的平板移动；测量设置与运行十分快捷；样品夹在两个热流传感器中间测试，温度梯度固定或可调。在几分钟的温度与温度梯度稳定期后，使用内嵌的控制器或外部电脑测得样品的导热系数与热阻。

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