薄膜电容器使用时经常产生的问题 点击:171 | 回复:0



jec1688

    
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发表于:2018-10-10 09:20:44
楼主

小编归纳了下我们使用薄膜电容器时经常遇到的问题,也总结了解决的经验。薄膜电容产生问题是有三个失误才导致的,即:

一、范围电流选用不当

范围内电流选用不当产生较多的位置是直流维持和简谐振动部份本质需要的电流值假如比薄膜电容器允许经过的电流值大则会形成薄膜电容发热影响,长远高温作业,引起薄膜电容使用年限大大下降严重的可能炸裂乃至是着火燃烧在配置试验中允许通过专属的电流探头或另外方法测量一下实质需求的峰值电流继而调动电容器的参数可通过配置在功率退化测验中勘测一下薄膜电容的温升依据薄膜电容的温升允许参数来鉴定薄膜电容器的采选是否适合

二、导线连接方式不当

导线连接方式不当关键产生薄膜电容多只并联电路运用中因为接线方法走线间隔不同原因,引起每并联的薄膜电容在电子回路中分流不相同。表现在多个并联的薄膜电容,的温升都不相同。部分位置的薄膜电容温升太高,产生摧毁意外。所以,必要对薄膜电容的并联行使进行适当的布线连接尽可能要做到平均,提升薄膜电容使用年限

三、超出规定的范围电压

超出规定的范围电压产生最多的方面是简谐振动部分开发人员应当依照配置的使用功率输入电压电路拓扑负荷磁导率电子回路Q因子等参数当作综合思考后作初步打算等到样机开始达到条件后实质勘测一下配置在输出功率期间薄膜电容器两边的电峰值串联谐振参数进一步判断所采用的薄膜电容器型号参数是否准确





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