求助：产品检验简单方案设计 点击：959 | 回复：20
发表于：2004-07-05 14:59:00
楼主
要求对一个圆柱形的产品进行检测，产品的顶端形状不规则，底部是规则的倒角后的
圆形。检测的项目包括：产品的直径和高度（高度就是产品最高点到底部的距离），
其中直径的要求较高，有上下公差限制+/-0.020，产品的基本规格为直径在20-25mm
，高度在30-35mm左右。目前想使用射光的方法测量，初步打算让产品在传输带上传
送，通过检测被挡住的时间间隔*传送带的速度，得到直径。对于产品高度，准备采
用两条光线，限定高度的上下偏差，如果不在上下偏差内的产品即为不合格（直径也
可以考虑采用这个方法），不合格品采用声光报警或者直接推出的方法。而且由于产
品的量较大，人工检测不方便，而且要求保证检测的效率。希望有进行过相关检测的
高手给予提示。不胜感激！我的信箱：whitewhitehorse@fc18.com
发表于：2004-07-06 10:42:00
5楼
对于高度检测，有同学提出两个方案好像比较可行，现请各位大侠指教：
方案一：采用较易发生弹性弹簧固定在产品的上部，通过读取弹簧的微小形变读取高
度，相应的传送带要求具有一定的刚性，比较读取的值，从而判定产品的高度是否合格。
方案二：通过超声波测距，在产品上端安装一个超声波测距仪，不断对产品发射超声波，读取距离最短的点的距离，从而判定产品的高度是否合格。我觉得这种方法可能测距的精度没有办法保证，因为我在网上搜了一下，好像精度只有零点几厘米，不能满足，不知道大侠有没有更好的建议。
另外，版主的建议太过简单，能不能稍微详细一点，谢谢！
发表于：2004-07-08 08:37:00
14楼
CCD （电荷耦合器件）实质上是采用集成电路技术‘组装’在一起的许多光敏元件组成的阵列，摄像头就是面阵 CCD ，适合测长的是线阵 CCD ，它的像元是一列排放的，像元中心距可以小到 7 um ，常见的是 512、1024、2048 元的器件（具体原理和资料可以在网上搜）。当平行光投射到器件上时，可以根据受光单元数确定长度。其最小分辨率为单元间距，最小测量长度为间距乘以像元数（不考虑光学结构）。选取适当器件、改变光路结构可以达到检测要求。
我以为本例可以这样实现：两个检测宽度、一个检测高度，三个 CCD 器件可以实现宽度、长度的检测。检测宽度：当工件移动‘前径’（暂且这样叫）进入第一个 CCD ，可读出第二个 CCD 值（后径），两个器件读出值加它们的间距得到宽度。同时开始检测高度过程，不断读取高度值，加入峰值保持算法以得到最大高度值。
得到高度和宽度，分选就不是问题了。
该方案没有机械结构，不存在磨损和惯性问题，也可以不停止工件移动，达到高的检测速度。光路空气应该是洁净的，以防止尘埃粒子产生衍射影响精度。
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